我司配備針對(duì)SiC晶片的各種先進(jìn)檢測(cè)設(shè)備,可提供SiC晶片膜厚、載流子濃度、粗糙度等檢測(cè)與分析服務(wù)
SiC晶圓觀察分析
SiC晶圓表面載流子濃度檢測(cè)
原子力顯微鏡測(cè)試SiC外延片表面粗糙度
測(cè)試SIC晶圓平坦度和厚度變化
檢測(cè)和分析 SiC 外延中的表面缺陷和晶體缺陷