我司配備針對(duì)SiC晶片的各種先進(jìn)檢測(cè)設(shè)備，可提供SiC晶片膜厚、載流子濃度、粗糙度等檢測(cè)與分析服務(wù)
技術(shù)指標(biāo):
1.光譜分辨率:優(yōu)于0.25cm-1
2.干涉儀:平面鏡(非立體角鏡)電磁驅(qū)動(dòng)，具有13萬(wàn)次或以上連續(xù)動(dòng)態(tài)調(diào)整功能
3.光譜范圍:7800-350cm-1
4.靈敏度:優(yōu)于50000:1(峰-峰值，4cm-1分辨率，1分鐘掃描，DTGS檢測(cè)器)
5.波數(shù)精度:0.005cm-1
6.樣品尺寸:直徑≤15mm
詳情請(qǐng)聯(lián)系銷售部吳經(jīng)理15225822566